El blog de filatelia temática de la FIAF fue el primero, en nuestro medio, en anunciar la conformación del jurado para la Exposición Internacional de Nueva York, que se realizará entre el 28 de mayo y el 4 de junio próximos, luego de que la lista fuera publicada en la página oficial de la Exposición.
Cincuenta y tres personas, más otras seis en calidad de aprendices, integran el equipo que juzgará las colecciones presentes en Nueva York. Veintitrés de los jurados, a los que se suman dos aprendices, son del área de la Federación Interamericana de Filatelia, incluyendo dos jurados españoles (Fernando Aranaz y José Ramón Moreno).
Como era de esperar, la gran mayoría de estos jurados proviene del país anfitrión: catorce más los dos aprendices. Entre ellos se encuentra el Presidente del Jurado, Peter McCann y el Secretario, Stephen Reinhard, Presidente de la American Philatelic Society, a quien conocimos en Quito como Presidente del Jurado de Expoafe 150 Años. James Mazepa, quien hasta 2014 fuera Presidente de la Federación Interamericana de Filatelia y Ross Towle, son también parte del grupo de jurados, y uno de los aprendices es Yamil Kouri, actual integrante del Consejo Ejecutivo de la Federación; los tres son destacados estudiosos de la filatelia latinoamericana.
De izquierda a derecha, Peter McCann, Presidente del Jurado; Stephen Reinhard, Secretario: Jamez Mazepa, miembro del Jurado; y Yamil Kouri, Jurado Aprendiz |
Charles Verge, Presidente de la Real Sociedad Filatélica del Canadá, integra también el cuerpo de jurados, junto con los siguientes destacados filatelistas latinoamericanos: Andrés Schlichter (Argentina), Klerman Lopes (Brasil), Santiago Cruz Arboleda (Colombia), Luis Fernando Díaz (Costa Rica); José Raúl Lorenzo (Cuba) y Dila Eaton (Paraguay).
La Exposición de Nueva York abrirá sus puertas el 28 de mayo, en el Javits Center, con un acto inaugural que se realizará en el salón de eventos especiales,a las nueve de la mañana con quince minutos.
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